Материаловедение и технология материалов Часть дипломной работы Технические науки

Часть дипломной работы на тему Исследование структуры образцов системы молибден О3-Al, полученных методом CВ-синтеза

  • Оформление работы
  • Список литературы по ГОСТу
  • Соответствие методическим рекомендациям
  • И еще 16 требований ГОСТа,
    которые мы проверили
Нажимая на кнопку, я даю согласие
на обработку персональных данных
Фрагмент работы для ознакомления
Не хочешь рисковать и сдавать то, что уже сдавалось?!
Закажи оригинальную работу - это недорого!
 

Фрагмент текста работы:

 

Глава 2. Методы исследования
2.1 Рентгенофазовый анализ (РФА)

Рентгеновская кристаллография — это метод, используемый для определения атомной и молекулярной структуры кристалла, при котором кристаллическая структура заставляет пучок падающих рентгеновских лучей рассеиваться во многих конкретных направлениях. Измеряя углы и интенсивности этих дифрагированных пучков, кристаллограф может создать трехмерную картину плотности электронов внутри кристалла. Из этой электронной плотности можно определить средние положения атомов в кристалле, а также их химические связи, их кристаллографический беспорядок и другую различную информацию.
Поскольку многие материалы могут образовывать кристаллы, такие как соли, металлы, минералы, полупроводники, а также различные неорганические, органические и биологические молекулы, рентгеновская кристаллография была фундаментальной для развития многих научных областей.
В первые десятилетия его использования этот метод определял размер атомов, длину и типы химических связей, а также различия в масштабе атомов между различными материалами, особенно минералами и сплавами. Метод также показал структуру и функцию многих биологических молекул, включая витамины, лекарства, белки и нуклеиновые кислоты, такие как ДНК.
Рентгеновская кристаллография по-прежнему является основным методом определения атомной структуры новых материалов и различения материалов, которые выглядят похожими в других экспериментах.
Рентгено-кристаллические структуры могут также учитывать необычные электронные или упругие свойства материала, проливать свет на химические взаимодействия и процессы или служить основой для разработки фармацевтических препаратов против болезней.
При измерении дифракции рентгеновских лучей на монокристалле кристалл устанавливают на гониометре. Гониометр используется для позиционирования кристалла в выбранных ориентациях. Кристалл освещается тонко сфокусированным монохроматическим пучком рентгеновских лучей, создавая дифракционную картину регулярно расположенных пятен, известных как отражения, отмечается авторами [6].

Важно! Это только фрагмент работы для ознакомления
Скачайте архив со всеми файлами работы с помощью формы в начале страницы